半導(dǎo)體陶瓷冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛用于各類電子零配件的可靠性測試，核心是模擬溫度驟變環(huán)境，快速暴露材料熱脹冷縮引發(fā)的物理損傷和性能失效問題 ，除了半導(dǎo)體陶瓷會用到冷熱沖擊試驗(yàn)箱還有電子芯片IC、BGA、PCB基板、MCU微控制器等可檢測封裝分層、BGA球開裂、焊點(diǎn)微裂紋等隱性缺陷，保障芯片在寬溫環(huán)境下的電氣性能穩(wěn)定。

部分參數(shù)參考：

內(nèi)容積：50L

內(nèi)箱尺寸：400 *350 *350mm   (W* H *D)

外型尺寸(約)：1550*1750*1600mm   (W* H *D)以實(shí)際尺寸為準(zhǔn)  

重  量：約700㎏

測試室溫度范圍：-55℃～+150 ℃ (風(fēng)冷式)

低溫沖擊范圍：-10℃～-55 ℃  （任意可調(diào)）

高溫沖擊范圍：60℃～150 ℃   （任意可調(diào)）

預(yù)熱溫度范圍：RT～+165℃

升溫時間：+50℃→+165℃≤40min注：升溫時間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時的性能

預(yù)冷溫度范圍：RT～-70℃

降溫時間：+20℃ → -70℃≤約90min注：降溫時間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時的性能

溫度恢復(fù)時間：≤5min；轉(zhuǎn)換溫度只需要≤10s（風(fēng)門開啟時間：3秒以內(nèi)）

沖擊暴露時間：≥15min

內(nèi)容積：50L

內(nèi)箱尺寸：400 *350 *350mm   (W* H *D)

外型尺寸(約)：1550*1750*1600mm   (W* H *D)以實(shí)際尺寸為準(zhǔn)  

重  量：約700㎏

測試室溫度范圍：-55℃～+150 ℃ (風(fēng)冷式)

低溫沖擊范圍：-10℃～-55 ℃  （任意可調(diào)）

高溫沖擊范圍：60℃～150 ℃   （任意可調(diào)）

預(yù)熱溫度范圍：RT～+165℃

升溫時間：+50℃→+165℃≤40min注：升溫時間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時的性能

預(yù)冷溫度范圍：RT～-70℃

降溫時間：+20℃ → -70℃≤約90min注：降溫時間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時的性能

溫度恢復(fù)時間：≤5min；轉(zhuǎn)換溫度只需要≤10s（風(fēng)門開啟時間：3秒以內(nèi)）

沖擊暴露時間：≥15min

半導(dǎo)體陶瓷冷熱沖擊試驗(yàn)箱優(yōu)勢：

1.具有磁盤USB記錄功能，不需記錄儀；

2.冷媒伺服閥流量演算控制，省電30%；

3.低溫工作狀態(tài)，加熱器不參與工作，通過PWM技術(shù)控制調(diào)節(jié)制冷機(jī)組制冷劑流量和流向，對制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調(diào)節(jié)，實(shí)現(xiàn)對工作室溫度的自動恒定。此方式在低溫工況下，可實(shí)現(xiàn)降低40%的能耗.

4.控制系統(tǒng)采用彩色觸摸屏控制器,控制度高、使用壽命長，采用大屏7寸LCD顯示屏，具有高清晰、觸摸屏反應(yīng)靈敏之特點(diǎn)。

5.愛佩科技采用的自動除霜技術(shù)，使除霜時間縮短，試?yán)錈釠_擊試驗(yàn)箱的使用效率大大增加。大部分冷熱沖擊試驗(yàn)箱，通常在運(yùn)行段時間后開始結(jié)霜，并且除霜時間非常長，使用效率低下。還有些是自動除霜技術(shù)，需手動除霜之后方可再進(jìn)行試驗(yàn)，使用效率不佳。

6.具有多項安保護(hù)措施,故障報警顯示及故障原因和排除方法的功能顯示。安電壓之保護(hù)模塊，耐電壓高達(dá)500V，接上設(shè)備不怕設(shè)備燒毀。能將冷媒量作有效的控制管理。自動安保護(hù)開關(guān)，感應(yīng)度高，能偵測任何狀態(tài)，在短時間內(nèi)作切斷保護(hù)和警報通知，確保人員和機(jī)器的安。升降溫獨(dú)立,BTHC平恒調(diào)溫方式。送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，避免了氣流在箱內(nèi)流通死角，提高了產(chǎn)品溫度均勻度。